西部产学研在线服务平台
| 关注我们
扫描二维码
口袋专利

专利在线查询

描二维码
西部产学研在线

官方公众号

|关于我们
平台简介 帮助中心
|网站导航
| 咨询热线：029-88202821
您当前的位置：科技成果 > 一种基于射线追踪确定表面波导盲区信息的方法

一种基于射线追踪确定表面波导盲区信息的方法

1692018/10/08
咨询成果 发布成果
基本信息
  • 成果类型 高等院校
  • 委托机构 西安电子科技大学
  • 成果持有方 西安电子科技大学
  • 行业领域 其他电子信息
  • 项目名称 一种基于射线追踪确定表面波导盲区信息的方法
  • 知识产权 发明专利
  • 成果成熟度
  • 项目简介 一种基于射线追踪确定表面波导盲区信息的方法，步骤如下：获取修正折射率剖面数据；确定计算范围，包括最大传播距离，最大传播高度，高度步进值，发射天线高度以及发射天线初始发射仰角及射线仰角间隔，判断是否对射线进行追踪；根据Snell定律的二阶泰勒近似模式对射线进行追踪，获得每一根射线的传播轨迹；对于所有符合追踪条件的射线进行陷获与否的判定并分类，提取出射射线的离散数据；获得波导顶部盲区的起始位置参数；计算表面波导顶部盲区面积。本发明引入射线追踪法对电波射线进行判定、归类，提取及数据离散化处理，简单直观并且准确地获得盲区的起始位置、范围，使盲区计算模型的复杂程度降低，从而实现对流层表面波导盲区面积的快速计算。
交易信息
  • 意向交易额 面议
  • 挂牌时间 2019/10/08
  • 委托机构 西安电子科技大学
  • 分享至：