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超高频射频识别电子标签上的天线阻抗测量方法

1792018/09/03
咨询成果 发布成果
基本信息
  • 成果类型 高等院校
  • 委托机构 西安电子科技大学
  • 成果持有方 西安电子科技大学
  • 行业领域 微电子
  • 项目名称 超高频射频识别电子标签上的天线阻抗测量方法
  • 知识产权 发明专利
  • 成果成熟度
  • 项目简介 本发明公开了一种超高频射频识别电子标签上天线输入阻抗的测量方法，主要解决阻抗测量设备本身精度对测量精度影响的问题。其实现步骤为：1.用电子校准件校准测量用矢量网络分析仪；2.用测量线将矢量网络分析仪端口与差分巴伦夹具单端SMA接头连接；3.依次测量差分巴伦夹具差分端在短路、开路、接50Ω电阻的三种状态下的输入阻抗；4.测量差分巴伦夹具差分端接待测平衡天线状态下其单端SMA接头处的输入阻抗值；5.根据上述四个已测参数计算得到一个电子标签平衡天线的输入阻抗。本发明避免了测量设备精度对测量结果的影响，且具有操作简单快速、测量精度高的优点，可用于大批量超高频射频识别电子标签上平衡天线的输入阻抗测量。
交易信息
  • 意向交易额 面议
  • 挂牌时间 2017/10/27
  • 委托机构 西安电子科技大学
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