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星载微带阵列天线热变形对电性能影响的快速预测方法

1702019/10/16
咨询成果 发布成果
基本信息
  • 成果类型 高等院校
  • 委托机构 西安电子科技大学
  • 成果持有方 西安电子科技大学
  • 行业领域 航空宇航科学与技术
  • 项目名称 星载微带阵列天线热变形对电性能影响的快速预测方法
  • 知识产权 发明专利
  • 成果成熟度
  • 项目简介 本发明公开了一种星载微带阵列天线热变形对电性能影响的快速预测方法，包括：1)确定天线的几何模型参数、材料属性和电磁工作参数；2)建立天线结构有限元模型，确定约束条件，计算天线的阵面热变形；3)计算在热载荷环境下阵列天线中天线单元的结构变形量、中心节点偏移量和指向偏转量；4)计算微带天线单元的辐射方向图函数；5)计算相邻两天线单元在辐射场的空间相位差、口面相位误差；6)建立星载微带阵列天线机电耦合模型，绘制天线辐射场方向图；7)分析在热载荷环境下天线结构热变形对天线辐射性能的影响。本发明可用于快速评价天线结构热变形对天线辐射性能的影响，从而指导天线的热设计和结构设计，减少研制成本、缩短研制周期。
交易信息
  • 意向交易额 面议
  • 挂牌时间 2020/10/16
  • 委托机构 西安电子科技大学
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