您当前的位置:科技成果 > 基于SIFT特征点的SAR图像变化检测方法

基于SIFT特征点的SAR图像变化检测方法

3512018/08/09
基本信息
  • 成果类型 高等院校
  • 委托机构 西安电子科技大学
  • 成果持有方 西安电子科技大学
  • 行业领域 其他电子信息
  • 项目名称 基于SIFT特征点的SAR图像变化检测方法
  • 知识产权 发明专利
  • 成果成熟度
  • 项目简介 本发明公开了一种基于SIFT特征点的SAR图像变化检测方法,主要解决现有检测方法受“斑点”噪声影响较大的问题。其实现过程是:(1)将已配准且进行辐射校正和几何校正的两幅待检测SAR图像进行归一化处理;(2)利用归一化后的待检测的两幅图获得差异图;(3)利用尺度不变特征变换方法提取差异图中的SIFT特征点;(4)将SIFT特征点作为种子点进行区域生长,得到变化图。本发明具有对“斑点”噪声鲁棒性强的优点,可用于低性噪比下的SAR图像变化检测。
交易信息
  • 意向交易额 面议
  • 挂牌时间 2018/03/20
  • 委托机构 西安电子科技大学
  • 分享至: