您当前的位置:
科技成果 >
基于弛豫GeSn材料的光电探测器
基于弛豫GeSn材料的光电探测器
212
2019/07/04
基本信息
-
成果类型
高等院校
-
委托机构
西安电子科技大学
-
成果持有方
西安电子科技大学
-
行业领域
先进制造技术
-
项目名称
基于弛豫GeSn材料的光电探测器
-
知识产权
发明专利
-
成果成熟度
-
项目简介
本发明公开了一种基于弛豫GeSn材料的光电探测器,包括衬底、弛豫层、n+型区、光吸收区、p+型区、保护层和金属电极。弛豫层、n+型区、光吸收区、p+型区均采用GeSn材料;发射极区、基极区、光吸收区、集电极区依次竖直分布,钝化层包围在器件的外围。本发明通过在衬底和n+型区之间插入一层Sn的组份高于n+型区、光吸收区、p+型区GeSn合金的GeSn层作为应变弛豫层,使得采用该材料生长方法和结构的光电探测器较于传统GeSn探测器有着相同Sn组份下更好的光电特性和更宽的探测范围。
-
交易信息
-
意向交易额
面议
-
挂牌时间
2020/07/04
-
委托机构
西安电子科技大学
-
分享至: