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一种目标位姿测量方法和装置

2112018/08/27
咨询专利 发布专利
基本信息
  • 专利类型 高等院校
  • 委托机构 西安电子科技大学
  • 专利持有方 西安电子科技大学
  • 行业领域 数据分析处理
  • 项目名称 一种目标位姿测量方法和装置
  • 知识产权 发明专利
  • 项目简介 本发明提供一种目标位姿测量方法和装置，确定两站相机拍摄的目标影像序列、目标模型以及模拟的成像空间，还包括：循环执行N1至N7，直至目标影像序列中所有图片中的目标均被确定位姿：N1：提取目标影像序列中当前帧的两站图片中目标轮廓线；N2：计算当前帧的两站图片中目标的重心坐标；N3：确定目标模型在所述模拟的成像空间中的位置；N4：获取模拟的成像空间中目标模型的模拟图片，并提取模拟图片的模拟轮廓线；N5：将模拟轮廓线与对应的目标轮廓线进行匹配；N6：确定目标的当前姿态；N7：判断当前帧是否为目标影像序列中的最后一帧，如果否，则将下一帧作为当前帧，执行N1，提高了目标位姿测量的准确性。
交易信息
  • 意向交易额 面议
  • 挂牌时间 2017/12/01
  • 委托机构 西安电子科技大学
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