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一种基于多周期平均的相位差测量装置

2012018/08/27
咨询专利 发布专利
基本信息
  • 专利类型 高等院校
  • 委托机构 西安电子科技大学
  • 专利持有方 西安电子科技大学
  • 行业领域 数据分析处理
  • 项目名称 一种基于多周期平均的相位差测量装置
  • 知识产权 发明专利
  • 项目简介 本实用新型属于时频测量技术领域，公开了一种基于多周期平均的相位差测量装置，包括：用于将输入的正弦信号整形为方波信号的信号放大整形模块；用于实现相位差信号的取出、高频窄脉冲生成以及填充计数的取相位差及窄脉冲计数模块；用于通过内部的定时器完成参考闸门的产生以及计算结果显示控制的单片机模块；用于显示计算结果的显示模块。本实用新型有效的适用于低频周期性信号的相位测量，用于电网供电系统中的相位测量，提前引进矫正措施，成本低廉，方法也相对简单可靠；通过多个周期的测量结果取平均值，有效的减小了由于±1的计数误差带来的影响，提高了测量精度。本实用新型需要元器件较少，方法简单，系统可靠性高。
交易信息
  • 意向交易额 面议
  • 挂牌时间 2017/12/12
  • 委托机构 西安电子科技大学
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