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基于区域提取的双参数恒虚警检测方法

3062018/08/13
咨询专利 发布专利
基本信息
  • 专利类型 高等院校
  • 委托机构 西安电子科技大学
  • 专利持有方 西安电子科技大学
  • 行业领域 其他电子信息
  • 项目名称 基于区域提取的双参数恒虚警检测方法
  • 知识产权 发明专利
  • 项目简介 本发明公开了一种基于区域提取的双参数恒虚警检测方法，主要解决现有SAR图像目标检测技术中检测速度慢和参数设置导致目标漏检的问题。其实现步骤为：对带有目标标记的训练图像提取正负样本集，用线性分类器SVM训练一个基于规范梯度特征的模板w，并对提取的正样本集基于初始的图像尺寸选择有效的尺寸集；然后基于模板w和有效的尺寸集对测试图像提取有效尺寸下的区域；再对提取的区域用双参数恒虚警进行检测得到候选区域，并对候选区域用非最大值抑制NMS，去除大量重叠的区域，最后剩下的区域即为最终的检测结果。本发明相比于传统的双参数CFAR检测具有检测速度快和检测概率高的优点，适用于SAR图像目标的快速检测。
交易信息
  • 意向交易额 面议
  • 挂牌时间 2018/03/06
  • 委托机构 西安电子科技大学
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