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一种基于最小中值梯度滤波的坏点检测及校正方法

3612019/12/27
咨询专利 发布专利
基本信息
  • 专利类型 高等院校
  • 委托机构 西安电子科技大学
  • 专利持有方 西安电子科技大学
  • 行业领域 其他电子信息
  • 项目名称 一种基于最小中值梯度滤波的坏点检测及校正方法
  • 知识产权 实用新型
  • 项目简介 本发明公开了一种基于最小中值梯度滤波的坏点检测及校正方法，以待检测像素点为中心的5×5Bayer阵列，以中心像素点为基准，对水平，竖直，对角线，斜对角线的每个方向分别计算三个梯度的绝对值，取出每个方向梯度绝对值的中值，再求出这四个中值的最小值，作为边缘方向即坏点校验方向，对于最小中值梯度方向，满足中间梯度绝对值大于同方向另外两个梯度绝对值和的某整数倍，为坏点，用该方向的像素值校验之；否则为正常点，直接输出。对于某些特殊值域的点，采用更加严格的判决条件以减少边缘点处的漏检，对于对角线或反对角线处，在梯度满足某些条件时采用更加宽松的判决条件以减少边缘处的误检。本发明快速滤除坏点，误检率和漏检率较低，且能完整保留图像边缘。
交易信息
  • 意向交易额 面议
  • 挂牌时间 2020/12/27
  • 委托机构 西安电子科技大学
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