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一种基于超像素特征的低秩表示的极化SAR图像分类方法
一种基于超像素特征的低秩表示的极化SAR图像分类方法
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2019/10/25
基本信息
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专利类型
高等院校
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委托机构
西安电子科技大学
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专利持有方
西安电子科技大学
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行业领域
其他电子信息
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项目名称
一种基于超像素特征的低秩表示的极化SAR图像分类方法
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知识产权
发明专利
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项目简介
本发明公开了一种基于超像素特征的低秩表示的极化SAR图像分类方法,主要提高了现有经典算法在边缘的分类正确率的问题。主要过程:(1)对极化SAR数据进行Freeman分解,得到表面散射能量,体散射能量和二次散射能量,通过这三个能量计算散射功率熵和共极化比;(2)对RGB合成图进行超像素处理,得超像素结果图;(3)对每个超像素提取上述五个特征的平均值,并构建所有超像素的一个特征矩阵,每一列代表一个超像素的特征;(4)对特征矩阵进行低秩表示,获取低秩系数,对低秩系数进行聚类;(5)对聚类结果进行wishart调整,最后着色。本发明对比其它经典的方法能够更好提高分类正确率,因此可以用于极化SAR图像分类。
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交易信息
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意向交易额
面议
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挂牌时间
2020/10/25
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委托机构
西安电子科技大学
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