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利用等离子体线级联结构反演强扰动电离层参量的方法

4902018/08/08
咨询专利 发布专利
基本信息
  • 专利类型 高等院校
  • 委托机构 西安电子科技大学
  • 专利持有方 西安电子科技大学
  • 行业领域 其他电子信息
  • 项目名称 利用等离子体线级联结构反演强扰动电离层参量的方法
  • 知识产权 发明专利
  • 项目简介 一种利用等离子体线级联结构反演强扰动电离层参量的方法，包括步骤：(1)由非相干散射雷达观测数据，提取电离层加热实验引起的强扰动区域具有级联结构的异常非相干散射等离子体线功率谱；(2)对具有级联结构的异常非相干散射等离子体线功率谱中的相关峰值频差进行统计；(3)确定电离层加热过程中出现的低频波频率；(4)将步骤(2)中统计的频差与步骤(3)中计算得到的低频波频率进行对比，确定该级联结构是由电离层加热中参量衰变不稳定中哪种低频波产生的；(5)根据步骤(4)的结果，根据fpi的计算公式电子密度和电子温度。该方法能够很大程度提高反演精度，是获取强扰动电离层参量的一种新方法。
交易信息
  • 意向交易额 面议
  • 挂牌时间 2018/04/17
  • 委托机构 西安电子科技大学
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